Lò nướng chống tĩnh điện dạng tia E
Trong quy trình in ấn bằng kỹ thuật lithography, việc sấy khô lớp chất cản quang bằng tia E không chỉ là một bước đơn giản – đó thực sự là yếu tố...
Máy sấy sau quá trình phơi nhiễm (PEB)
Trong quy trình in ấn bằng phương pháp lithography, nhiệt độ từ thiết bị PEB dù chỉ thay đổi 0,2°C cũng có thể ảnh hưởng xấu đến chất lượng của các...
Đèn nướng photoresist
Trên sàn sản xuất, bạn đo biên độ sai số trong quá trình xử lý photoresist ở mức nanomet. Sai lệch chỉ vài độ trong quá trình soft bake hoặc hard...